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总线插头灌封胶脱黏开裂原因分析
          
Cause Analysis on Deboding and Cracking of Encapsulant for Bus Plug

摘    要
某总线插头灌封胶在装配过程中出现脱黏和开裂,通过断口分析、力学性能试验、地面试验和空中试验等方法,对灌封胶脱黏和开裂的原因进行了分析。结果表明:灌封胶所使用的硅橡胶力学性能较差,在总线装配过程中弯折应力的作用下,总线插头灌封胶发生了脱黏和开裂;通过试验优选出一种高延伸率硅橡胶,与底涂工艺配合使用,可解决总线插头灌封胶脱黏和开裂的质量问题。
标    签 总线插头   灌封胶   脱黏   开裂   硅橡胶   底涂   bus plug   encapsulant   debonding   cracking   silicon rubber   base coat  
 
Abstract
Debonding and cracking encapsulant for a bus plug appeared during assembly. The causes of debonding and cracking of the encapsulant were analyzed by means of fracture analysis, mechanical property test, ground test, air test and so on. The results show that the mechanical properties of the silicone rubber used in the encapsulant was not good enough, and debonding and cracking of the encapsulant happened under the bending stress during bus assembly. A kind of silicone rubber with high elongation was selected through experiments, which can be used with base coating process to solve the quality problems of debonding and cracking of the encapsulant of the bus plug.

中图分类号 TQ436+6   DOI 10.11973/lhjy-wl201903009

 
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所属栏目 质量控制与失效分析

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收稿日期 2018/5/12

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备注苗蓉丽(1967-),女,教授级高工,主要从事航空非金属材料测试技术研究及非金属构件失效分析工作,miaorli@163.com

引用该论文: MIAO Rongli. Cause Analysis on Deboding and Cracking of Encapsulant for Bus Plug[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2019, 55(3): 191~193
苗蓉丽. 总线插头灌封胶脱黏开裂原因分析[J]. 理化检验-物理分册, 2019, 55(3): 191~193


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参考文献
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