Cause Analysis on Deboding and Cracking of Encapsulant for Bus Plug
![](/skin/Gold/line_sep1.gif)
摘 要
某总线插头灌封胶在装配过程中出现脱黏和开裂,通过断口分析、力学性能试验、地面试验和空中试验等方法,对灌封胶脱黏和开裂的原因进行了分析。结果表明:灌封胶所使用的硅橡胶力学性能较差,在总线装配过程中弯折应力的作用下,总线插头灌封胶发生了脱黏和开裂;通过试验优选出一种高延伸率硅橡胶,与底涂工艺配合使用,可解决总线插头灌封胶脱黏和开裂的质量问题。
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
![](flash/relate.gif)
Abstract
Debonding and cracking encapsulant for a bus plug appeared during assembly. The causes of debonding and cracking of the encapsulant were analyzed by means of fracture analysis, mechanical property test, ground test, air test and so on. The results show that the mechanical properties of the silicone rubber used in the encapsulant was not good enough, and debonding and cracking of the encapsulant happened under the bending stress during bus assembly. A kind of silicone rubber with high elongation was selected through experiments, which can be used with base coating process to solve the quality problems of debonding and cracking of the encapsulant of the bus plug.
中图分类号 TQ436+6 DOI 10.11973/lhjy-wl201903009
所属栏目 质量控制与失效分析
基金项目
收稿日期 2018/5/12
修改稿日期
网络出版日期
![](/skin/blank.gif)
作者单位点击查看
![](/skin/blank.gif)
备注苗蓉丽(1967-),女,教授级高工,主要从事航空非金属材料测试技术研究及非金属构件失效分析工作,miaorli@163.com
引用该论文: MIAO Rongli. Cause Analysis on Deboding and Cracking of Encapsulant for Bus Plug[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2019, 55(3): 191~193
苗蓉丽. 总线插头灌封胶脱黏开裂原因分析[J]. 理化检验-物理分册, 2019, 55(3): 191~193
共有人对该论文发表了看法,其中:
人认为该论文很差
人认为该论文较差
人认为该论文一般
人认为该论文较好
人认为该论文很好
![请选择您对本文的评价](/skin/Gold/evaluation/ev_01.gif)
![您认为本文一无是处!](/skin/Gold/evaluation/ev_02.gif)
![您认为本文较差,没啥用!](/skin/Gold/evaluation/ev_03.gif)
![您认为本文一般,没太大参考价值](/skin/Gold/evaluation/ev_04.gif)
![您认为本文尚可,值得参考](/skin/Gold/evaluation/ev_05.gif)
![您认为本文很好,值得推荐](/skin/Gold/evaluation/ev_06.gif)
参考文献
【1】《中国航空材料手册》编辑委员会. 中国航空材料手册[M]. 2版. 北京:中国标准出版社,2002.
【2】苗蓉丽,赖忠惠,章菊华. 橡胶与密封剂[M]. 北京:化学工业出版社,2014.
【3】张栋,钟培道,陶春虎,等. 失效分析[M]. 北京:国防工业出版社,2005.
【4】王荣. 机械装备的失效分析(续前)第8讲失效诊断与预防技术(1)[J]. 理化检验(物理分册),2017,53(12):849-858.
【5】于凤梅,杨薛军,张科伟,等. 表面处理技术在航天材料中的应用[J]. 理化检验(物理分册),2018,54(6):411-417.
【6】史亚君. 硅烷偶联剂的界面性能研究及机理探讨[J]. 国外建材科技,2005,26(4):70-71.
【7】徐溢,藤毅,徐铭熙. 硅烷偶联剂应用现状及金属表面处理新应用[J]. 表面技术,2001(6):48-51.
【8】苗蓉丽,朱锋,董占鳌,等. 某型号前盖密封圈及壳体组件密封圈寿命研究[J]. 航空兵器,2002(3):21-23.
【9】丁孝均,赵云峰,许文. 甲基乙烯基硅橡胶密封件贮存寿命评估研究[J]. 有机硅材料,2015,29(3):203-206.
【2】苗蓉丽,赖忠惠,章菊华. 橡胶与密封剂[M]. 北京:化学工业出版社,2014.
【3】张栋,钟培道,陶春虎,等. 失效分析[M]. 北京:国防工业出版社,2005.
【4】王荣. 机械装备的失效分析(续前)第8讲失效诊断与预防技术(1)[J]. 理化检验(物理分册),2017,53(12):849-858.
【5】于凤梅,杨薛军,张科伟,等. 表面处理技术在航天材料中的应用[J]. 理化检验(物理分册),2018,54(6):411-417.
【6】史亚君. 硅烷偶联剂的界面性能研究及机理探讨[J]. 国外建材科技,2005,26(4):70-71.
【7】徐溢,藤毅,徐铭熙. 硅烷偶联剂应用现状及金属表面处理新应用[J]. 表面技术,2001(6):48-51.
【8】苗蓉丽,朱锋,董占鳌,等. 某型号前盖密封圈及壳体组件密封圈寿命研究[J]. 航空兵器,2002(3):21-23.
【9】丁孝均,赵云峰,许文. 甲基乙烯基硅橡胶密封件贮存寿命评估研究[J]. 有机硅材料,2015,29(3):203-206.
相关信息