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ISO/TC 135国际无损检测标准会议在德国慕尼黑举行
发布:kittyll   时间:2016/7/12 9:59:44   阅读:792 
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2016年6月18日至6月20日,第20届ISO/TC 135(国际标准化组织无损检测技术委员会)会议在德国慕尼黑举行,中国代表团一行10人参加了会议。

本次会议包括ISO/TC 135(无损检测)全体会议以及SC 2(表面)、SC 3(超声)、SC 4(涡流)、SC 5(射线)、SC 6(泄漏)、SC 7(人员认证)、SC 8(红外)、SC 9(声发射)等8个分委员会会议,我国代表参加了全部会议。

会议的主要议题是审议秘书处工作报告,以及针对上次会议形成的标准制定工作情况进行讨论,并确定下一步的工作计划和安排。

ISO/TC 135全体会议讨论并达成了如下决议:

1) 接受并通过了ISO/TC 135以及各SC的秘书处工作报告;

2) 决定下次的ISO/TC 135会议于2018年在巴西圣保罗举行;

3) 决定更改下列分委员会(SC)的名称:

——SC 4:由Eddy Current Methods改为Eddy Current Testing(涡流检测);

——SC 5:由Radiation Methods改为Radiographic Testing(射线检测);

——SC 6:由Leak Detection Methods改为Leak Testing(泄漏检测);

——SC 8:由Infrared Thermography for Non-destructive Testing改为Thermographic Testing(热像检测)。

本次会议,我国代表通过与国际同行的广泛交流和深入沟通,取得了如下丰硕成果:

1)会议同意由沈功田教授主持起草的ISO 20669《Non-destructive testing —Pulsed Eddy current testing of ferromagnetic metallic components》,在对专家意见进行修改后进入最后的FDIS投票阶段;

2)会议同意由沈功田教授主持起草的ISO 18251-1《Non-destructive testing —Infrared thermography—System and equipment—Part1: Description of characteristics》,在对专家意见进行修改后进入最后的FDIS投票阶段;

3)会议同意由沈功田教授提出并主持起草的ISO 18251-2《Non-destructive testing — Infrared thermography — System and equipment — Part 2: Standard Testing Method of Integrated performance parameters》,进入项目提案阶段;

4)会议同意由沈功田教授和美国ASNT主席L. Terry Clausing联合主持起草ISO 10881《Non-destructive testing—Infrared thermography—Guidelines for examination of electrical installations》;

5)会议同意由沈功田教授主持起草的ISO 19835《Non-destructive testing —Acoustic emission testing on steel structures of overhead travelling cranes and portal bridge cranes》,跳过CD阶段直接进入DIS阶段;

6)会议同意由徐春广教授提出并主持起草的ISO 21453《Non-destructive testing — Test method for measuring residual stress using ultrasonic critical refracted longitudinal wave》,在完成提案修改后,不迟于2016年9月底前再给予一次立项投票的机会;

7)经中国代表团团长沈功田教授的争取,ISO/TC 135/SC 9(声发射分委员会)讨论并决定将下次SC 9会议于2017年10月9日至10日在西安(与2017 WCAE世界声发射大会同期)举行。
 







附:参加2016德国慕尼黑 ISO/TC 135会议的中国代表团名单
  • 沈功田,中国特种设备检测研究院,中国代表团团长
  • 胡 斌,中国特种设备检测研究院
  • 徐春广,北京理工大学机械与车辆学院
  • 肖定国,北京理工大学机械与车辆学院
  • 武新军,华中科技大学机械科学与工程学院
  • 金宇飞,上海材料研究所
  • 倪培君,中国兵器工业集团第五二研究所
  • 张维国,中国兵器工业集团第五二研究所
  • 郭智敏,中国兵器工业集团第五二研究所
  • 孔凡琴,通用电气检测控制技术(上海)有限公司
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