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双丝像质计

双丝像质计应用于射线照片底片像质图像不清晰度的测定及实时射线透照系统几何不清晰度的测定.通过对透照不清晰度的测定，以达到透照系统不清晰度的要求.

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DL821-2002 JB4730.2-2005沟槽对比试块

2015/4/28 15:33:33

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